雙絲像質計被應用在許多X射線應用中，特別是用于評價圖像不清晰度（膠片和數字影像）和數字圖像的基本空間分辨率，根據EN13068 (X射線透視) ，EN14784 和 ISO 13671 （基于成像板的CR）ISO 17636-2 (焊縫的數字放射學-平板探測器)或用ASTM E 2597（數字探測器陣列特性）。新的ISO標準正在準備中，描述使用雙絲像質計測定X射線管的焦斑尺寸的可能性。